產(chǎn)品中心
Product Centerproduct
產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章SGD-2 單光子計數(shù)實驗系統(tǒng) 該實驗系統(tǒng),由單光子計數(shù)器,半導體制冷系統(tǒng),外光路光學系統(tǒng),光功率指示儀,工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計數(shù)和數(shù)字計數(shù)技術(shù),具有較高的線性動態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號,便于計算機處理,為教師做相關(guān)教學提供了必要的實驗環(huán)境。
XGS-1 電子散斑干涉實驗系統(tǒng) 電子散斑干涉(ESPI)實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變,是計算機圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見,采用CCD攝像機,使之可采用計算機處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變,距離,速度測試,物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。 實驗內(nèi)容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖,了解激光散斑現(xiàn)象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內(nèi)位移的方法
XGS-3 電子及激光散斑實驗系統(tǒng) 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。
HNL-55700多束光纖激光源采用550mm功率激光管和進口高傳輸性光纖,通過精密光學分束機構(gòu)分至七束光纖,每束光纖長度為4米,ZUI多為七臺邁氏干涉儀提供擴束光源。